Рентгенофлюоресцентные стационарные анализаторы

Толщиномеры и анализаторы покрытий FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ

Толщиномер и анализатор покрытий FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

Измерительные приборы FISCHERSCOPE X-RAY серий XDL/XDLM/XDAL

Толщиномеры и анализаторы покрытий FISCHERSCOPE X-RAY XAN

Анализаторы драгоценных металлов и покрытий Fischer серии GOLDSCOPE

Анализаторы драгоценных металлов и
покрытий Fischer серии GOLDSCOPE

Сферы применения

Особенности

Рентгенофлуоресцентные анализаторы Fischer GOLDSCOPE — это линейка приборов для неразрушающего контроля качества золота и других драгметаллов. Серия включает четыре модели, предназначенные для анализа состава материалов и толщины покрытий.

Применение:

Анализ ювелирных изделий, монет, зубных сплавов.
Измерение толщины покрытий (серебро, родий, золотой сплав).
Контроль в лабораториях, ювелирном и аффинажном производстве, ломбардах и пунктах скупки.

Устройство

В моделях GOLDCOPE 510/515 установлены кремниевые PIN-детекторы, модели GOLDCOPE 520/550 оснащены более чувствительными кремниевыми дрейфовыми детекторами. Аппаратная часть и программное обеспечение анализаторов полностью соответствуют требованиям ювелирного и золотого секторов.
Конструктивно устройства представляют собой компактные настольные приборы. Источник рентгеновского излучения и детектор расположены в нижней камере. Модель GOLDSCOPE SD 510 занимает наименьшую площадь, поскольку дверь измерительной камеры открывается спереди, а не вверх. Это даёт возможность разместить ноутбук для работы на инструменте, что позволяет сэкономить место.

GOLDSCOPE SD 510: ломбарды, небольшие розничные магазины;
GOLDSCOPE SD 515: ломбарды, розничная торговля, профессиональные выставочные залы, небольшие аналитические кабинеты;
GOLDSCOPE SD 520: аналитические кабинеты, пробирные палаты иклеймение, заводы;
GOLDSCOPE SD 550: аналитические кабинеты, пробирные палаты иклеймение, ювелирное производство;

представление данных на ПК, а также анализ, оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
удобство позиционирования образца;
направление измерения: снизу вверх;
интегрированный видеомикроскоп смасштабированием для точной регулировки точки измерения;
метод фундаментальных параметров Fischer для проведения измерений без калибровки.

Модель	GOLDSCOPE SD 510	GOLDSCOPE SD 515	GOLDSCOPE SD 520	GOLDSCOPE SD 550
Рентгеновский источник	термически стабилизированная вольфрамовая трубка		микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
Напряжение	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Первичный фильтр	—	—	фиксированный Al 500 мкм	сменные: Ni 10 мкм, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, Al 100 мкм, Mylar 100 мкм, без фильтра
Апертура (коллиматор)	фиксировано 1 мм; опция 0,6 мм	фиксировано 1 мм; опция 0,6 мм	фиксировано 1 мм; опция 0,6 мм	сменные: 0,2 мм; 0,6 мм; 1 мм; 2 мм
Область измерения	мин. Ø 0,7 мм	мин. Ø 0,7 мм	мин. Ø 0,7 мм	мин. Ø 0,3 мм
Рентгеновский детектор	кремниевый PIN-детектор	кремниевый PIN-детектор	кремниевый дрейфовый детектор	кремниевый дрейфовый детектор
Разрешение детектора	≤ 180 эВ	≤ 180 эВ	≤ 160 эВ	≤ 160 эВ
Диапазон элементов	от S (16) до U (92)	от S (16) до U (92)	от S (16) до U (92)	от Al (13) до U (92)
Воспроизводимость для золота, время измерения 60 сек	≤ 2 ‰	≤ 1 ‰ с апертурой 1 мм	≤ 0,5 ‰ с апертурой 1 мм	≤ 0,5 ‰ с апертурой 1 мм
Расстояние до образца	0 – 25 мм	0 – 25 мм	0 – 25 мм	0 – 25 мм
Область размещения образца	305×490 мм	310×320 мм	310×320 мм	310×320 мм
Максимальная масса образца	13 кг	13 кг	13 кг	13 кг
Максимальная высота образца	130 мм	90 мм	90 мм	90 мм
Позиционирование образца	вручную	вручную	вручную	вручную
Масштабирование	1x, 2x, 3x, 4x	1x, 2x, 3x, 4x	1x, 2x, 3x, 4x	1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскоп	цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического контроля местоположения измерения вдоль оси первичного луча, перекрестье с калиброванной шкалой (линейкой) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка
Программное обеспечение	WinFTM, включая Gold Setup GOLDSCOPE со встроенными измерительными приложениями для золота и ювелирных изделий
Питание	адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Диапазон рабочих температур	от +10 до +45°С	от +10 до +45°С	от +10 до +45°С	от +10 до +45°С
Класс защиты	IP40	IP40	IP40	IP40
Температура хранения	от 0 до +50 °С	от 0 до +50 °С	от 0 до +50 °С	от 0 до +50 °С
Габариты	405×588×426 мм	403×588×365 мм	403×588×365 мм	403×588×365 мм
Масса	45 кг	45 кг	45 кг	45 кг

Технические характеристики

Толщиномеры и анализаторы покрытий
FISCHERSCOPE X-RAY XAN

Сферы применения

Особенности

Настольные рентгенофлуоресцентные анализаторы FISCHERSCOPE® X-RAY XAN предназначены для контроля толщины покрытий и элементного состава золота и драгоценных сплавов. Серия включает четыре модели, которые могут быть адаптированы под конкретные задачи.

Гибкая конфигурация — за счет выбора детекторов, фильтров и диафрагм — позволяет оптимизировать прибор для анализа любых материалов. Все модели серии соответствуют отраслевым стандартам, включая DIN ISO 3497 и ASTM B 568.

Модели XAN 220 и XAN 222

Оптимизированные рентгенофлюоресцентные измерительные устройства. Используются для контроля ювелирных изделий, монет и драгоценных металлов. Подходят для измерения толщины покрытия и анализа состава сплавов драгоценных металлов. Можно определить до 24 элементов одновременно. Кремниевый дрейфовый детектор обладает высокой точностью и хорошей чувствительностью.

Модели XAN 250 и XAN 252

Высокопроизводительные универсальные рентгенофлюоресцентные измерительные устройства. Применяются для контроля толщины покрытия и анализа материалов. Подходят для исследования тонких покрытий, в том числе в сложных комбинациях. Имеют электрически сменные апертуры и первичные фильтры, оснащены кремниевым дрейфовым детектором.

FISCHERSCOPE XAN 220 и XAN 222:анализ ювелирных изделий, драгоценных металлов изубных сплавов, жёлтого и белого золота, платины и серебра, родия, сплавов, многослойных покрытий.

FISCHERSCOPEXAN 250 и XAN 252:измерение нанометровых покрытий в электронике, определение опасного содержания свинца, анализ сплавов вювелирном и часовом производстве.

представление данных на ПК, анализ и оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
источник рентгеновского излучения иполупроводниковый детектор расположены внижней камере приборов;
метод фундаментальных параметров Fischer исключает необходимость калибровки;
высокая точность и долговременная стабильность;
интегрированный видеомикроскоп смасштабированием для точной регулировки точки измерения;
модели XAN 222 и XAN 252 имеют возможность регулировки позиционирования для мелких деталей и более крупную измерительную камеру;
модели XAN 220 и XAN 250 имеют фиксированную поддержку образца;
направление измерения: снизу вверх.

Модель	XAN 220	XAN 222	XAN 250	XAN 252
Рентгеновский источник	микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
Напряжение	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Апертура (коллиматор)	фиксировано 1 мм; опция 2 мм; 0,6 мм	фиксировано 1 мм; опция 2 мм; 0,6 мм	4 сменных: 0,2 мм; 0,6 мм; 1 мм; 2 мм	4 сменных: 0,2 мм; 0,6 мм; 1 мм; 2 мм
Область измерения	Ø 1,2 мм — апертура Ø 1 мм, плоский образец, расстояние 0 мм	Ø 1,2 мм — апертура Ø 1 мм, плоский образец, расстояние 0 мм	мин. Ø 0,3 мм	мин. Ø 0,3 мм
Рентгеновский детектор	кремниевый дрейфовый детектор		кремниевый дрейфовый детектор
Разрешение детектора	≤ 160 эВ	≤ 160 эВ	≤ 160 эВ	≤ 160 эВ
Диапазон элементов	от S (16) до U (92)	от S (16) до U (92)	от Al (13) до U (92)	от Al (13) до U (92)
Расстояние до образца	0 – 25 мм	0 – 25 мм	0 – 25 мм	0 – 25 мм
Область размещения образца	310×320 мм	310×320 мм	310×320 мм	310×320 мм
Максимальная масса образца	13 кг	2 кг	13 кг	2 кг
Максимальная высота образца	90 мм	174 мм	90 мм	174 мм
Масштабирование	1x, 2x, 3x, 4x	1x, 2x, 3x, 4x	1x, 2x, 3x, 4x	1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскоп	цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического контроля местоположения измерения вдоль оси первичного луча, перекрестье с калиброванной шкалой (линейкой), индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка
Программное обеспечение	стандартно: Fischer WinFTM BASIC including PDM; опционально: Fischer WinFTM SUPER
Питание	адаптер переменного тока 115/230 В; 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Диапазон рабочих температур	от +10 до +40°С	от +10 до +40°С	от +10 до +40°С	от +10 до +40°С
Класс защиты	IP40	IP40	IP40	IP40
Температура хранения	от 0 до +50 °С	от 0 до +50 °С	от 0 до +50 °С	от 0 до +50 °С
Габариты	403×588×365 мм	403×588×444 мм	403×588×365 мм	403×588×444 мм
Масса	45 кг	45 кг	45 кг	45 кг

Технические характеристики

Измерительные приборы FISCHERSCOPE X-RAY
серий XDL/XDLM/XDAL

Сферы применения

Особенности

Рентгенофлуоресцентные измерительные системы FISCHERSCOPE® X-RAY серий XDL, XDLM и XDAL предлагают различные аппаратные исполнения для решения широкого спектра задач. Конфигурация прибора подбирается индивидуально под конкретные метрологические требования.

Системы позволяют проводить измерения в различных диапазонах и поддерживают все режимы работы: от ручного контроля до частичной или полной автоматизации, включая серийные испытания. Все приборы соответствуют международным стандартам DIN ISO 3497 и ASTM B 568.

Серия XDL

Включает модели XDL 210/220/230/240, которые доступны с различными вариантами опор для размещения образцов, а также фиксированной или регулируемой осью Z. Энергодисперсионные приборы универсальны вприменении и подходят для измерения толщины и анализа тонких покрытий, частей печатных плат и деталей серийного производства.

Серия XDLM

Включает модели XDLM 231/232/237, которые имеют фиксированную, управляемую вручную или моторизованную XY-опору для образцов. Все модели серии оснащены программируемой осью Z с приводом. Имеют электрически сменные апертуры и первичные фильтры. Приборы подходят для исследования тонких покрытий, даже с малой плотностью.

Модель XDAL 237

Устройство разработано для неразрушающего контроля и анализа очень тонких покрытий ≤ 0,1 мкм, имеющих небольшую плотность и сложный состав. Благодаря программируемой XY-регулировке опоры прибор отлично подходит для автоматизированных измерительных операций при мониторинге качества и производственном процессе.

контроль качества, входящий контроль иконтроль производственного процесса;
проверка тонких покрытий и слоёв декоративного хромирования;
анализ растворов гальванических покрытий;
контроль функциональных покрытий вэлектронике и полупроводниках;
исследование деталей гальванического производства;
автоматизированные измерения.

в моделях, оборудованных XY-регулировкой опоры, имеется лазерная указка для облегчения позиционирования и выравнивания образцов;
представление данных на ПК, анализ и оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
оснащены цветной видеокамерой высокого разрешения для определения места измерения;
метод фундаментальных параметров Fischer исключает необходимость калибровки;
зазор в корпусе позволяет проводить измерения на больших плоских образцах, которые непомещаются в измерительную камеру;
интегрированный видеомикроскоп смасштабированием для точной регулировки точки измерения;
высокая скорость измерения благодаря использованию пропорционального счётчика;
долговременная стабильность системы.

Модель	XDL 210	XDL 220	XDL 230	XDL 240
Рентгеновский источник	вольфрамовая трубка с бериллиевым окном		вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
Напряжение	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ
Апертура (коллиматор)	Ø 0,3 мм; опция Ø 0,1 мм; Ø 0,2 мм; 0,3×0,05 мм		Ø 0,3 мм; опция Ø 0,1 мм; Ø 0,2 мм; 0,3×0,05 мм
Область измерения	мин. Ø 0,2 мм
Рентгеновский детектор	пропорциональный счётчик		пропорциональный счётчик
Диапазон элементов	от Ti (22) до U (92), анализирует до 24 элементов одновременно с использованием WinFTM BASIC
Расстояние до образца	0 – 80 мм
Область размещения образца	463×500 мм	463×500 мм	420×450 мм	300×350 мм
Максимальная масса образца	20 кг	20 кг	20 кг	5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца	25 – 300 мм (в зависимости от опоры)	140 мм / 290 мм	140 мм	140 мм
Исполнение	фиксированная опора	фиксированная опора	ручная XY-регулировка	программируемая XY-регулировка
Перемещение опоры по оси XY	—	—	95×150 мм	255×235 мм
Скорость перемещения опоры	—	—	—	≤ 80 мм/сек
Ось Z	фиксированная позиция (верхняя/средняя/нижняя)	электрически регулируемая	электрически регулируемая	программируемая
Перемещение опоры по оси Z	—	140 мм	140 мм	140 мм
Лазерная указка	—	—	есть	есть
Масштабирование	1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскоп	цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического контроля местоположения измерения вдоль оси первичного луча, перекрестье с калиброванной шкалой (линейкой) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка
Программное обеспечение	стандартно: Fischer WinFTM LIGHT; опционально: Fischer WinFTM BASIC, PDM, SUPER
Питание	адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Диапазон рабочих температур	от +10 до +40°С
Класс защиты	IP40
Температура хранения	от 0 до +50 °С
Габариты	570×760×650 мм
Масса	94 кг	99 кг	107 кг	120 кг

Технические характеристики модели XDAL 237

Технические характеристики серии XDLM

Технические характеристики серии XDL

Модель	XDLM231	XDLM232	XDLM237
Рентгеновский источник	микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
Напряжение	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ	30 кВ, 40 кВ, 50 кВ
Апертура (коллиматор)	стандартно 4 сменных: Ø 0,1 мм; Ø 0,2 мм; 0,05×0,05 мм; 0,2×0,03 мм; опция: Ø 0,3 мм; 0,3×0,05 мм
Область измерения	мин. Ø 0,1 мм с апертурой 0,05×0,05 мм	мин. Ø 0,1 мм с апертурой 0,05×0,05 мм	мин. Ø 0,1 мм с апертурой 0,05×0,05 мм
Рентгеновский детектор	пропорциональный счётчик	пропорциональный счётчик	пропорциональный счётчик
Диапазон элементов	от K (19) до U (92), анализирует до 24 элементов одновременно с использованием WinFTM BASIC
Расстояние до образца	0 – 80 мм	0 – 80 мм	0 – 80 мм
Область размещения образца	463×500 мм	420×450 мм	300×350 мм
Максимальная масса образца	20 кг	20 кг	5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца	140 мм	140 мм	140 мм
Исполнение	фиксированная опора	ручная XY-регулировка	программируемая моторизованная XY-регулировка
Перемещение опоры по оси XY	—	95×150 мм	255×235 мм
Скорость перемещения опоры	—	—	≤ 80 мм/сек
Ось Z	электрически регулируемая	электрически регулируемая	программируемая
Перемещение опоры по оси Z	140 мм	140 мм	140 мм
Лазерная указка	есть	есть	есть
Масштабирование	1x, 2x, 3x, 4x	1x, 2x, 3x, 4x	1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскоп	цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического мониторинга положения измерения вдоль оси первичного луча, ручная фокусировка и автофокус, перекрестье с калиброванной шкалой (линейка) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка, лазерная указка (класс 1) для точного размещения образцов
Программное обеспечение	стандартно: Fischer WinFTM LIGHT; опционально: Fischer WinFTM BASIC, PDM, SUPER
Питание	адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Диапазон рабочих температур	от +10 до +40°С	от +10 до +40°С	от +10 до +40°С
Класс защиты	IP40	IP40	IP40
Температура хранения	от 0 до +50 °С	от 0 до +50 °С	от 0 до +50 °С
Габариты	570×760×650 мм	570×760×650 мм	570×760×650 мм
Масса	100 кг	108 кг	120 кг

Рентгеновский источник	микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном
Напряжение	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Апертура (коллиматор)	4 сменных: Ø 0,1 мм; Ø 0,3 мм; Ø 0,6 мм; 0,5×0,15 мм
Область измерения	Ø 0,15 мм с апертурой 0,1 мм
Рентгеновский детектор	версия с кремниевым ПИН-детектором, разрешение ≤ 200 эВ, элементы: от S (16) до U (92)
	версия с кремниевым дрейфовым детектором, разрешение ≤ 160 эВ, элементы: от Al (13) до U (92)
Расстояние до образца	0 – 80 мм
Область размещения образца	300×350 мм
Максимальная масса образца	5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца	140 мм
Исполнение	программируемая моторизованная XY-регулировка
Перемещение опоры по оси XY	255×235 мм
Скорость перемещения опоры	80 мм/сек
Перемещение опоры по оси Z	140 мм
Лазерная указка	есть
Масштабирование	1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскоп	цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического мониторинга положения измерения вдоль оси первичного луча, ручная фокусировка и автофокус, перекрестье с калиброванной шкалой (линейка) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка, лазерная указка (класс 1) для точного размещения образцов
Программное обеспечение	стандартно: Fischer WinFTM BASIC включая PDM; опционально: Fischer WinFTM SUPER
Питание	адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Диапазон рабочих температур	от +10 до +40°С
Класс защиты	IP40
Температура хранения	от 0 до +50 °С
Габариты	570×760×650 мм
Масса	115 кг

Толщиномер и анализатор покрытий
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

Характеристики

Анализатор покрытий FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD: Мощное и гибкое XRF-решение
Этот рентгенофлуоресцентный прибор оснащен мощной рентгеновской трубкой и крупным кремниевым дрейфовым детектором (SDD), что обеспечивает максимальную гибкость в выборе размера пятна измерения и спектра возбуждения для любых материалов.

Ключевые особенности:

Модульная конструкция: Поддержка различных фильтров и диафрагм для адаптации под конкретные задачи.

Высокая локальная точность: Детектор с окном 50 мм² и апертурой Ø3 мм позволяет анализировать малые области и тонкие покрытия с высокой скоростью и точностью.

Автоматизация: Электрически сменные апертуры и фильтры, программируемые XY-опоры для автоматизированных серийных измерений.

Области применения:

Контроль ультратонких покрытий (Au, Pd от 0,1 мкм), функциональных слоев в электронике.
Анализ золотых сплавов и сложных многослойных систем.
Выявление регламентированных веществ (RoHS, WEEE, CPSIA) в электронике, упаковке и товарах.

Особенности

подходит для определения тонких покрытий, небольших структур, микроэлементов и сплавов;
оснащён высокоточной программируемой XY-опорой и Z-осью с электрическим приводом;
метод фундаментальных параметров Fischer исключает необходимость калибровки;
соответствует стандартам DIN ISO 3497
и ASTM B 568;
интегрированный видеомикроскоп с масштабированием для точной регулировки точки измерения;
представление данных на ПК, анализ и оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
лазерная указка для облегчения позиционирования и выравнивания образцов.

Рентгеновский источник	микрофокусная трубка с вольфрамовой мишенью и бериллиевым окном
Напряжение	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Апертура (коллиматор)	4 сменных: Ø 0,2 мм; Ø 0,6 мм; Ø 1 мм; Ø 3 мм
Первичный фильтр	6 сменных: Ni, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, Al 100 мкм, Mylar 100 мкм, без фильтра
Область измерения	мин. Ø 0,25 мм; размер пятна измерения ≈ размер апертуры + 10%; зависит от расстояния измерения и диафрагмы; фактический размер пятна измерения показывается на видеоизображении
Рентгеновский детектор	кремниевый дрейфовый детектор, эффективная область 50 мм²
Разрешение	≤ 140 эВ
Расстояние до образца	0 – 80 мм
Область размещения образца	370×320 мм
Максимальная масса образца	5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца	140 мм
Исполнение	программируемая XY-регулировка опоры
Перемещение опоры по оси XY	250×250 мм
Скорость перемещения опоры	60 мм/сек
Перемещение опоры по оси Z	140 мм
Лазерная указка	есть
Масштабирование	1x, 2x, 3x, 4x
Видеомикроскоп	цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического мониторинга положения измерения вдоль оси первичного луча, ручная фокусировка и автофокус, перекрестье с калиброванной шкалой (линейка) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка, лазерная указка (класс 1) для точного размещения образцов
Фокусировка	автофокус, ручная настройка фокальной плоскости в диапазоне от 0 до 80 мм
Программное обеспечение	стандартно: Fischer WinFTM BASIC включая PDM; опционально: Fischer WinFTM SUPER
Питание	адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Диапазон рабочих температур	от +10 до +40 °С
Класс защиты	IP40
Температура хранения	от 0 до +50 °С
Габариты	660×835×720 мм
Масса	140 кг

Толщиномеры и анализаторы покрытий
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ

Сферы применения

Особенности

Толщиномеры FISCHERSCOPE® X-RAY серии XDV-μ: Рентгенофлуоресцентный микроанализ с высочайшей точностью

Приборы этой серии предназначены для точного микроанализа покрытий и материалов. Используя рентгеновскую оптику, они позволяют анализировать структуры размером до 100 мкм и менее, однако подходят только для плоских или слабоизогнутых образцов.
Ключевая технология:

Все модели оснащены поликапиллярной оптикой для фокусировки рентгеновского пучка. Это формирует измерительное пятно диаметром от 10 до 60 мкм и обеспечивает высокую мощность излучения, что значительно сокращает время измерений.

Стандарты: Измерительные системы соответствуют международным нормам DIN ISO 3497 и ASTM B 568.

Модификации

Кроме универсального устройства XDV-μ имеются специализированные варианты. Модель XDV-μ LD (Long Distance) характеризуется расстоянием измерения мин. 12 мм. Это позволяет анализировать объекты сосложной геометрией. Модель XDV-μ PCB (Printed Circuit Boards) разработана для исследования небольших конструкций печатных плат и их компонентов размером до 610×610 мм.

Модель XDV-μ WAFER служит для измерений на пластинах диаметром до 300 мм. Имеет вакуумную систему захвата пластины. Диапазон хода XY-регулируемой опоры охватывает каждую точку на пластине. Модель XDV-μ LEAD FRAME оптимизирована для анализа толщин и составов покрытий на выводной рамке, например, AuAg/Pd/Ni/Au или CuFe/Pd/Ni/CuFe в нанометровом диапазоне. Определяет содержание фосфора впокрытиях NiP.

контроль качества, входящий контроль иконтроль производственного процесса;
проверка тонких покрытий и слоёв декоративного хромирования;
анализ растворов гальванических покрытий;
контроль функциональных покрытий вэлектронике и полупроводниках;
исследование деталей гальванического производства;
автоматизированные измерения.

корпус моделей XDV-μ, XDV-μ LD и XDV-μ LEAD FRAME имеет прорезь в боку, позволяющую измерять большие компоненты;
кремниевый дрейфовый детектор обеспечивает высокую точность и хорошую чувствительность обнаружения;
цветная видеокамера высокого разрешения упрощает точное определение места измерения;
метод фундаментальных параметров Fischer исключает необходимость калибровки;
оборудованы электрически сменными первичными фильтрами;
поликапиллярная рентгеновская оптика;
оптика моделей XDV-μ PCB и XDV-μ WAFER оснащена функцией автофокусировки, всложных случаях инструмент может проектировать контрастную сетку на поверхность образца;
представление данных на ПК, анализ и оценка измерений осуществляются с помощью программного обеспечения WinFTM;
оснащены высокоточной программируемой XY-опорой и Z-осью с электрическим приводом;
лазерная указка для облегчения позиционирования и выравнивания образцов;
возможность автоматизированного контроля.

Диапазон элементов	от Al (13) до U (92), до 24 элементов одновременно
Рентгеновский источник	стандартно: микрофокусная трубка с вольфрамовой мишенью и бериллиевым окном; опционально: микрофокусная трубка с молибденовой мишенью и бериллиевым окном
Напряжение	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Первичный фильтр	4 сменных: Ni 10 мкм, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, без фильтра
Область измерения	Ø 20 мкм
Расстояние от поверхности образца до нижнего края измерительной головки	фиксированное, около 4 – 5 мм
Рентгеновский детектор	кремниевый дрейфовый детектор, эффективная область 20 мм²
Область размещения образца	370×320 мм
Максимальная масса образца	5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца	135 мм
Перемещение опоры по оси XY	250×220 мм
Перемещение опоры по оси Z	140 мм
Скорость перемещения опоры	60 мм/сек
Масштабирование	до 1080x (оптический зум: 30x, 90x, 270x; цифровой зум: 1x, 2x, 3x, 4x)
Габариты	660×835×720 мм
Масса	135 кг

Общие параметры

Технические характеристики модели XDV-μ LEAD FRAME

Технические характеристики модели XDV-μ WAFER

Технические характеристики модели XDV-μ PCB

Технические характеристики модели XDV-μLD

Технические характеристики модели XDV-μ

Диапазон элементов	от S (16) до U (92), до 24 элементов одновременно
Рентгеновский источник	стандартно: микрофокусная трубка с вольфрамовой мишенью и бериллиевым окном; опционально: микрофокусная трубка с молибденовой мишенью и бериллиевым окном
Напряжение	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Первичный фильтр	4 сменных: Ni 10 мкм, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, без фильтра
Область измерения	Ø 60 мкм
Расстояние от поверхности образца до нижнего края измерительной головки	фиксированное, около 14 мм; мин. 12 мм
Рентгеновский детектор	кремниевый дрейфовый детектор, эффективная область 20 мм²
Область размещения образца	370×320 мм
Максимальная масса образца	5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца	135 мм
Перемещение опоры по оси XY	250×220 мм
Перемещение опоры по оси Z	140 мм
Скорость перемещения опоры	60 мм/сек
Масштабирование	до 1080x (оптический зум: 30x, 90x, 270x; цифровой зум: 1x, 2x, 3x, 4x)
Габариты	660×835×720 мм
Масса	135 кг

Диапазон элементов	от Al (13) до U (92), до 24 элементов одновременно
Рентгеновский источник	стандартно: микрофокусная вольфрамовая трубка с бериллиевым окном; опционально: микрофокусная трубка с молибденовой мишенью и бериллиевым окном
Напряжение	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Первичный фильтр	4 сменных: Ni 10 мкм, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, без фильтра
Область измерения	Ø 20 мкм
Расстояние от поверхности образца до нижнего края измерительной головки	фиксированное, около 4 – 5 мм
Рентгеновский детектор	кремниевый дрейфовый детектор, эффективная область 20 мм²
Область размещения образца	600×600 мм
Максимальная масса образца	5 кг
Максимальная высота образца	10 мм
Перемещение опоры по оси XY	450×300 мм
Скорость перемещения опоры	60 мм/сек
Проекция контрастной сетки на поверхность образца	есть
Масштабирование	цифровой зум: 1x, 2x, 3x, 4x
Габариты	670×885×660 мм
Масса	156 кг

Диапазон элементов	от Al (13) до U (92), до 24 элементов одновременно
Рентгеновский источник	стандартно: микрофокусная трубка с анодом из молибдена и бериллиевым окном; опционально: микрофокусная трубка с анодом из вольфрама и бериллиевым окном
Напряжение	10 кВ, 30 кВ, 50 кВ
Первичный фильтр	4 сменных: Ni 10 мкм, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, без фильтра
Область измерения	Ø 20 мкм
Расстояние от поверхности образца до нижнего края измерительной головки	фиксированное, около 4 – 5 мм
Рентгеновский детектор	кремниевый дрейфовый детектор, эффективная область 20 мм²
Диаметр пластины	150 мм, 200 мм, 300 мм
Максимальная масса образца	5 кг
Максимальная высота образца	3 мм
Перемещение опоры по оси XY	450×300 мм
Скорость перемещения опоры	60 мм/сек
Проекция контрастной сетки на поверхность образца	есть
Масштабирование	цифровой зум: 1x, 2x, 3x, 4x
Габариты	680×900×690 мм
Масса	130 кг

Диапазон элементов	от Na (11) до U (92), до 24 элементов одновременно
Рентгеновский источник	высокомощная трубка с бериллиевым окном
Напряжение	10 кВ, 20 кВ, 50 кВ
Первичный фильтр	4 сменных: Ni 10 мкм, Al 1000 мкм, Al 500 мкм, без фильтра
Область измерения	Ø 50 мкм
Расстояние от поверхности образца до нижнего края измерительной головки	фиксированное, около 1,5 – 2 мм
Рентгеновский детектор	кремниевый дрейфовый детектор
Область размещения образца	370×320 мм
Максимальная масса образца	5 кг / 20 кг
Максимальная высота образца	135 мм
Перемещение опоры по оси XY	250×220 мм
Перемещение опоры по оси Z	140 мм
Скорость перемещения опоры	60 мм/сек
Масштабирование	до 1080x (оптический зум: 30x, 90x, 270x; цифровой зум: 1x, 2x, 3x, 4x)
Габариты	660×835×720 мм
Масса	135 кг

Направление измерения	сверху вниз
Рентгеновская оптика	поликапиллярная
Видеомикроскоп	цветная CCD камера с высоким разрешением для оптического мониторинга положения измерения вдоль оси первичного луча, перекрестье с калиброванной шкалой (линейка) и индикатор пятна, регулируемая светодиодная подсветка, лазерная указка (класс 1) для точного размещения образцов
Фокусировка	ручная фокусировка и автофокусировка
Программное обеспечение	стандартно: Fischer WinFTM BASIC включая PDM; опционально: Fischer WinFTM SUPER
Питание	адаптер переменного тока AC 115 или 230 В; частота 50/60 Гц; потребляемая мощность макс. 120 Вт
Диапазон рабочих температур	от +10 до +40 °С
Класс защиты	IP40
Температура хранения	от 0 до +50 °С

Толщиномеры и анализаторы покрытий
FISCHERSCOPE X-RAY серии XUV

Характеристики